| |
頁 |
| 第1章 エレクトロニクス分野における接合・配線技術の動向 |
1 |
| 1.1 エレクトロニクス分野における接合・配線技術の担う役割 |
1 |
| 1.1.1 接合技術の担う役割 |
1 |
| (1) 接合方法 |
1 |
| (2) パッケージ接合技術 |
2 |
| (3) SIPにおける接合の重要性 |
4 |
| 1.1.2 配線技術の担う役割 |
4 |
| 1.2 益々微細化するエレクトロニクス分野における接合・配線技術 |
6 |
| 1.2.1 微細接合技術 |
11 |
| 1.2.2 微細配線技術 |
13 |
| 1.3 各種ロードマップに見る微細化の動向 |
15 |
| 1.4 エレクトロニクス分野が要求する接合・配線技術の要件と課題 |
21 |
| 1.4.1 半導体類似技術(SLT)によるスーパコネクト領域 |
22 |
| 1.4.2 マイクロ接合・配線技術の要件と課題 |
27 |
| (1) 低温実装材料 |
27 |
| (2) 鉛フリーはんだ |
28 |
| (3) 実装技術 |
29 |
| (4) 熱応力対策 |
29 |
| (5) LSI配線技術 |
31 |
| (6) 露光・現像・エッチング・めっき関連プロセス |
32 |
| (7) プリント配線板 |
32 |
| 1.4.3 マイクロ接合・配線を支える材料技術への要件と課題 |
33 |
| (1) 接合材料への要件と課題 |
33 |
| (2) 配線材料への要件と課題 |
35 |
| 引用文献 |
39 |
第2章 接合・配線材料および部材の市場動向 |
40 |
| 2.1 半導体関連市場 |
40 |
| 2.1.1 電子工業の市場規模 |
41 |
| 2.1.2 ディジタル民生機器 |
42 |
| 2.1.3 システムLSIの市場 |
45 |
| 2.1.4 パッケージの市場 |
47 |
| 2.1.5 プリント配線板の市場 |
51 |
| 2.2 接合材料の市場 |
56 |
| 2.2.1 導電性接着剤 |
58 |
| 引用文献 |
|
第3章 マイクロ配線技術の動向 |
59 |
| 3.1 プリント配線板の材料による分類 |
59 |
| 3.1.1 有機リジッド配線板 |
59 |
| 3.1.2 有機フレキシブル配線板 |
59 |
| 3.1.3 無機配線板 |
60 |
| 3.2 プリント配線板の工法による分類と特徴 |
60 |
| 3.2.1 片面プリント配線板 |
60 |
| 3.2.2 両面プリント配線板 |
61 |
| 3.2.3 多層プリント配線板 |
62 |
| 3.2.4 フレキシブルプリント配線板 |
63 |
| 3.2.5 ビルドアッププリント配線板 |
63 |
| 3.3 プリント配線板におけるマイクロ配線技術 |
69 |
| 3.3.1 サブトラクティブ法 |
70 |
| 3.3.2 フルアディティブ法 |
72 |
| 3.3.3 セミアディティブ法 |
73 |
| 3.3.4 メカニカルドリリング |
73 |
| 3.3.5 めっきスルーホール技術 |
75 |
| 3.4 ビルドアッププリント配線板の配線技術 |
77 |
| 3.4.1 フォトビア法 |
81 |
| 3.4.2 レーザビア法 |
83 |
| 3.4.3 プラズマビア法 |
85 |
| 3.4.4 ペーストバンプビア法 |
86 |
| 3.5 ビルドアッププリント配線板のマイクロ配線構造を支える技術 |
86 |
| 3.5.1 ビルドアッププリント配線板のビア形成技術 |
86 |
| 3.5.2 マイクロ配線におけるビアの必要性とビアの種類 |
88 |
| (1) ビア形成技術 |
90 |
| A.フォトビア法 |
90 |
| B.レーザビア法 |
91 |
| イ.ダイレクトイメージ法 |
93 |
| ロ.コンフォーマルマスク法 |
94 |
| ハ.ラージウィンドウ法 |
95 |
| C.レーザの種類と特徴 |
95 |
| イ.炭酸ガスレーザ |
97 |
| ロ.YAGレーザ |
99 |
| D.プラズマビア法 |
99 |
| (2) ビアのデスミア法 |
99 |
| (3) ビア導通技術 |
100 |
| イ.めっき法 |
101 |
| ロ.導電性ペーストによる方法 |
101 |
| (4) めっき法によるビアフィリング |
105 |
| 3.6 ビルドアッププリント配線板のマイクロ配線形成技術 |
107 |
| 3.6.1 サブトラクティブ法 |
107 |
| 3.6.2 セミアディティブ法 |
107 |
| 3.6.3 フルアディティブ法 |
108 |
| 3.6.4 配線転写法 |
109 |
| 3.6.5 薄膜法 |
110 |
| 3.7 ビルドアッププリント配線板における絶縁層形成技術 |
111 |
| 3.7.1 絶縁材料 |
111 |
| (1) 樹脂付き銅箔 |
114 |
| (2) 熱硬化性樹脂 |
114 |
| (3) 感光性樹脂 |
116 |
| 3.7.2 絶縁材塗布方法 |
118 |
| 3.8 ビルドアッププリント配線板におけるフォトレジスト |
120 |
| 3.8.1 フォトレジスト材料 |
120 |
| (1) 液状フォトレジスト |
121 |
| (2) ドライフィルムレジスト |
123 |
| 3.8.2 塗布方法 |
125 |
| (1) 液状フォトレジストの塗布方法 |
126 |
| (2) ドライフィルムレジストの塗布方法 |
126 |
| (3) 電着レジストの塗布方法 |
127 |
| 3.8.3 露光方法 |
128 |
| (1) 分割投影露光 |
129 |
| (2) マスクレス露光 |
130 |
| (3) 球状マスクレス露光 |
130 |
| (4) レーザダイレクトイメージング |
132 |
| 3.9 ビルドアッププリント配線板における銅箔技術 |
135 |
| 3.10 ビルドアッププリント配線板におけるソルダーレジスト技術 |
137 |
| 3.11 ビルドアッププリント配線板への各社の取り組み |
142 |
| 3.11.1 ALIVH+VIL基板 松下電子部品 日本ビクター |
142 |
| 3.11.2 ALIVH-FB基板 松下電器産業 |
144 |
3.11.3 基板面積を従来比1/16に小型化できる「MOSAIC-R」基板
ソニー根上 ソニーケミカル |
146 |
| 3.11.4 SSP工法 イビデン |
147 |
| 3.11.5 熱可塑性樹脂を用いた一括多層工法「PALAP」 デンソー |
148 |
| 3.11.6 回路形成転写テープを利用した一括積層基板 積水化学工業 |
150 |
| 3.11.7 導電性ペーストを改良した一括多層配線板 京セラ |
151 |
| 3.11.8 薄板3次元実装モジュール 東芝セミコンダクター社 イビデン |
152 |
| 3.12 フレキシブルプリント配線板の種類と特徴 |
153 |
| 3.12.1 キャスト法 |
157 |
| 3.12.2 メタライズ法 |
158 |
| 3.12.3 ラミネーション法 |
159 |
| 3.13 フレキシブルプリント配線板の配線技術 |
161 |
| 3.13.1 サブトラクティブ法 |
161 |
| 3.13.2 セミアディティブ法(パターン銅めっき法) |
161 |
| 3.13.3 銅箔材料 |
162 |
| 3.14 フレキシブルプリント配線板への各社の取り組み |
163 |
| 3.14.1 高密度フレキシブル回路基板 東レ |
163 |
| 3.14.2 両面配線テープの製造法 日立電線 |
164 |
| 3.14.3 能動素子内蔵フィルムモジュール 松下電器産業 |
165 |
| 引用文献 |
166 |
第4章 マイクロ接合技術の動向 |
170 |
| 4.1 BGA/CSP実装技術の動向 |
170 |
| 4.1.1 BGA実装技術の動向 |
172 |
| (1) P-BGA |
174 |
| (2) T-BGA |
175 |
| 4.1.2 CSP実装技術の動向 |
176 |
| (1) 従来型CSP |
176 |
| A.CSPの構造 |
177 |
| B.薄型CSP |
178 |
| C.FBCA,FLGA,SON,QFNの動向 |
179 |
| イ.FBGAの将来動向 |
179 |
| ロ.FLGAの将来動向 |
179 |
| ハ.SONの将来動向 |
180 |
| ニ.QFNの将来動向 |
181 |
| (2) 高速・多機能化CSP |
182 |
| (3) CSPへの各社の取り組み |
187 |
| A.多ピン、高放熱性TBGA 日立電線 |
187 |
| B.高速対応インターポーザ 日立電線 |
189 |
| C.低コストFBGA 富士通 |
190 |
| D.SCSP(Sper CSP) 富士通 |
191 |
| E.CSP シャープ |
194 |
| F.CSPTGA ソニー |
194 |
| G.NT-CSP ソニー |
196 |
| H.C-CSP 松下電子産業 |
197 |
| I.BGA/CSP用無電解金/ニッケルめっきテープキャリア 日立電線 |
197 |
J.ウエハレベルCSPを搭載した腕時計「MTGシリーズ」
・「WQVシリーズ」 カシオ計算機 |
198 |
| 4.1.3 SIPの技術動向 |
199 |
| (1) SIPへのアプローチ |
199 |
| (2) チップスタックドCSP技術動向 |
200 |
| A.薄いチップ化 |
200 |
| B.同一チップの積層 |
201 |
| (3) MCP実装技術の動向 |
202 |
| (4) 高速対応SIP |
202 |
| A.ワイヤボンディング |
203 |
| B.COC構造 |
204 |
| C.超高密度3次元LSIチップ積層実装技術 |
205 |
| 4.1.4 SIPへの各社の取り組み |
206 |
| (1) パッケージ積層型新型SIP シャープ |
206 |
| (2) パッケージ積層型SIP 富士通 |
207 |
| (3) 4チップ・スタックドCSPの開発 シャープ |
207 |
| (4) CS Module 富士通 |
209 |
| (5) 3次元実装FFCSP NEC |
211 |
| (6) 「ISB(Integrated System in Board)」 三洋電気 |
212 |
| (7) ギガヘルツ帯域に対応するシリコンインターポーザ基板 富士通研究所 富士通 |
213 |
| (8) プラズマ加工による三次元積層技術 米国Tru-Technologies社 |
215 |
| 4.2 ベアチップ実装技術の動向 |
217 |
| 4.2.1 TAB/TCP |
218 |
| (1) TCP実装の構造と特徴 |
219 |
| (2) ACFによるTCP実装(入力接続、出力接続) |
221 |
| 4.2.2 フリップチップ実装の動向 |
222 |
| (1) C4工法 |
226 |
| (2) 改良C4工法 |
228 |
| A.Tin Capped C4 Solder Bump法 エス・シー・アイ・テクノロジーズ・ジャパン |
228 |
| B.ローカルC4工法 九州松下電器 |
228 |
| C.無洗浄C4工法 九州松下電器 |
229 |
| (3) SS法、SJ法 |
229 |
| (4) ACF工法、ACP工法 |
233 |
| (5) 超音波実装工法 |
237 |
| (6) 金めっき樹脂ボール |
239 |
| (7) SBB(Stud Bump Bonding) |
240 |
| (8) GGI(Gold to Gold Interconnection) |
242 |
| (9) B2it+FCA |
243 |
| (10) バンプレス接合 |
244 |
| (11) ESC(Epoxy Encapsulated Solder Connection)工法 九州松下電器 |
247 |
| 4.2.3 フリップチップ実装への各社の取り組み |
248 |
| (1) ソルダーレスフリップチップ実装技術 富士通 |
248 |
| (2) 3秒で硬化するベアチップ実装用の速硬化型接着剤 富士通研究所 |
249 |
| (3) Cuの直接接合技術 ノース |
251 |
| 4.3 バンプ形成 |
252 |
| 4.3.1 バンプの役割 |
254 |
| 4.3.2 はんだバンプの形成技術 |
254 |
| (1) UBMの形成技術 |
256 |
| (2) マイクロバンプの形成技術 |
257 |
| 4.3.3 Auバンプの形成技術 |
257 |
| (1) 電解めっき法 |
258 |
| (2) 無電解めっき法 |
258 |
| (3) ボールバンプ法 |
259 |
| 4.3.4 電解めっき法 |
259 |
| 4.3.5 蒸着法 |
260 |
| 4.3.6 ワイヤバンプ法(スタッドバンプ) |
261 |
| 4.3.7 無電解めっき法 |
262 |
| 4.3.8 クリームはんだ印刷法 |
265 |
| 4.3.9 はんだボール形成技術 |
265 |
| (1) はんだボール搭載法 |
267 |
| (2) はんだボール転写法 |
269 |
| 4.3.10 メタルジェット法 |
270 |
| 4.3.11 バンプレスボンディング |
271 |
| 4.3.12 各社のバンプ形成への取り組み |
271 |
| (1) 無電解めっき法による狭ピッチバンプの形成 ソニーセミコクダクタ九州 |
271 |
| (2) 独立分散銅超微粒子ペーストを使用したバンプ形成 UMAT(株) 筑波大学物理工学系 |
274 |
| (3) 2-ステップ電解めっき法によるSn-Agはんだバンプの形成 東芝セミコンダクター社 |
274 |
| (4) 低コストの微細鉛フリーはんだバンプ 富士通研究所、富士通 |
276 |
| 4.4 ディスプレイにおける透明導電膜とベアチップ接合技術 |
278 |
| 4.4.1 LCDドライバの技術動向 |
279 |
| (1) 大型TFT-LCD |
280 |
| (2) 携帯用小型LCD |
280 |
| 4.4.2 COG |
281 |
| (1) COG実装の特長 |
281 |
| 4.4.3 TAB |
282 |
| 4.4.4 COF |
284 |
| (1) COF化率の推移 |
284 |
| (2) COFテープの特長 |
285 |
| (3) COFテープに要求される特性 |
287 |
| 引用文献 |
289 |
第5章 マイクロ接合・配線技術を支える要素技術 |
|
| 5.1 めっきによるマイクロ接合・配線技術 |
293 |
| 5.1.1 めっき法の特徴と課題 |
294 |
| 5.1.2 電解めっき |
294 |
| (1) 電解めっき法の特徴と課題 |
296 |
| (2) 電解めっきの原理 |
296 |
| (3) 一般的な電解めっき浴組成と工程 |
299 |
| (4) 電解めっきを成功させるための重要ポイント |
304 |
| 5.1.3 無電解めっき |
305 |
| (1) 無電解めっき法の特徴と課題 |
307 |
| (2) 無電解めっきの原理 |
308 |
| (3) 一般的な無電解めっき浴組成と工程 |
309 |
| (4) 無電解めっきを成功させるための重要ポイント |
313 |
| 5.1.4 ダイレクトプレーティングによる方法 |
314 |
| 5.1.5 めっきによる配線形成技術 |
316 |
| (1) めっきによるマイクロ配線形成 |
316 |
| (2) めっきによるビアフィリング |
319 |
| (3) ダマシンプロセス |
322 |
| 5.1.6 めっきへの各機関・企業の取り組み |
327 |
| (1) グリオキシル酸を還元剤とした無電解銅めっき液 日立製作所 |
327 |
| (2) 電解銅めっきシミユレーション技術の開発 日立製作所日立研究所 |
328 |
| (3) 含浸めっき技術 荏原製作所 東芝 |
329 |
| (4) 銀多層配線としての無電解Ni-Bめっき 荏原製作所 |
329 |
(5) 鎖状態ニッケルナノ粉末をポリマーに配合した導電ペースト
住友電気工業 |
330 |
(6) エポキシ系感光性樹脂のスルホン化を利用したダイレクト
プレーティング 日本リーロナール 甲南大学 富士通 |
331 |
| 5.2 エッチング |
331 |
| 5.2.1 マイクロ接合・配線工程におけるエッチングの重要性 |
331 |
| 5.2.2 エッチング液の種類と特徴 |
332 |
| 5.3 スパッタによるマイクロ接合・配線技術 |
334 |
| 5.3.1 スパッタ法の特徴と課題 |
334 |
| 5.3.2 スパッタ装置の原理と工程 |
336 |
| 5.3.3 マイクロ接合・配線に適するスパッタ法 |
337 |
| 5.3.4 スパッタ製膜を成功させる重要ポイント |
345 |
| 5.3.5 スパッタ用金属ターゲット |
346 |
| 5.4 はんだを用いたマイクロ接合技術 |
348 |
| 5.4.1 はんだを用いたマイクロ接合技術の特徴と課題 |
348 |
| 5.4.2 はんだ接合の工程 |
349 |
| 5.4.3 はんだによる接合技術 |
351 |
| (1) フローソルダリング技術 |
351 |
| (2) リフローソルダリング技術 |
352 |
| A.一括リフローソルダリングと局所リフローソルダリング |
353 |
| B.リフローソルダリングにおけるはんだ供給方法 |
356 |
| イ.ペースト法 |
356 |
| ロ.めっき法 |
356 |
| C.リフローソルダリングにおける加熱方法 |
357 |
| イ.赤外線炉 |
358 |
| ロ.熱風炉 |
358 |
| ハ.赤外線併用熱風炉 |
359 |
| ニ.蒸気相式はんだ付け |
359 |
| (3) マイクロソルダリング技術 |
360 |
| A.マイクロソルダリング技術におけるはんだ供給方法 |
360 |
| イ.スーパーソルダー法 |
361 |
| ロ.プリコートソルダリング法 |
362 |
| B.マイクロソルダリング技術における局所加熱方法 |
364 |
| イ.パルスヒート法 |
364 |
| ロ.局部加熱シングルポイント法 |
365 |
| C.マイクロソルダリング技術の課題 |
366 |
| 5.5 鉛フリーはんだの最新技術動向 |
366 |
| 5.5.1 はんだの鉛フリー化の必要性 |
366 |
| (1) 鉛フリー化の必要性 |
366 |
| (2) 規制の動向 |
367 |
| 5.5.2 鉛フリーはんだ技術の現状と課題 |
369 |
| (1) 鉛フリー化により発生する課題 |
370 |
| (2) 鉛フリーはんだプロジェクトの概要 |
371 |
| A.NEDOにおける取り組み |
373 |
| B.IMSにおける取り組み |
376 |
| C.NCMSにおける取り組み |
378 |
| (3) 鉛フリーはんだ材料 |
379 |
| A.Sn-Ag系はんだの現状と課題 |
382 |
| イ.Sn-Ag-Cu |
383 |
| ロ.Sn-Ag-Bi(Bi少量) |
386 |
| ハ.Sn-Ag-Bi(Bi多量) |
387 |
| B.Sn-Zn系はんだの現状と課題 |
387 |
| イ.Sn-Zn-Bi |
389 |
| ロ.Sn-Zn-In |
389 |
| C.Sn-Bi系はんだの現状と課題 |
389 |
| D.Sn-Cuはんだの現状と課題 |
390 |
| (4) 鉛フリーはんだに関する開発事例 |
391 |
| A.Sn-Zn-Al組成の鉛フリーはんだ材料 富士通 |
391 |
| (5) 鉛フリーはんだ実用化動向 |
392 |
| (6) 鉛フリーソルダーペーストの開発状況 |
395 |
| (7) 鉛フリーめっきの開発状況 |
397 |
| A.Sn-Cu合金めっき |
398 |
| B.Sn-Ag合金めっき |
399 |
| C.無光沢Snめっき |
399 |
| D.Sn-Agナノ粒子複合めっきの開発 大阪市立工業研究所 キザイ(株) (株)友電舎 |
400 |
| 5.6 ボンディングワイヤを用いたマイクロ接合技術 |
402 |
| 5.6.1 ボンディングワイヤ接合の特徴と課題 |
404 |
| 5.6.2 ボンディングワイヤ接合の信頼性 |
405 |
| 5.6.3 代表的なボンディングワイヤの金属組成 |
408 |
| 5.6.4 ボンディングワイヤのループコントロール |
408 |
| 5.6.5 ワイヤボンディングへの各社の取り組み |
410 |
| (1) Auワイヤによる可逆的インターコネクション 東京大学先端科学技術センター |
410 |
| (2) 半導体デバイス用の超音波ボンディング技術 日立製作所 |
411 |
| (3) ラジカルによるプラズマ表面処理技術 サムコインターナショナル研究所 |
411 |
| 5.7 異方性導電フィルム(ACF)を用いたマイクロ接合技術 |
412 |
| 5.7.1 ACFによる接合の特徴と課題 |
413 |
| 5.7.2 ACFが適する用途 |
415 |
| 5.7.3 代表的なACF組成 |
417 |
| 5.7.4 異方性導電材料への各社の取り組み |
419 |
| (1) 金属ナノ粉末と有機材料を複合化した導電材料 住友電気工業 |
419 |
| (2) 異方性導電シート「Pari Poser」米パリコン社(理化電子) |
420 |
| (3) 導電性粒子「ブライト」の微細ピッチ化、シャープ化 日本化学工業 |
421 |
| (4) 導電性微粒子「ミクロパールAU」 積水化学工業 |
421 |
| (5) ファインピッチを実現したACF 三重電子 ビアテック ユケン工業 |
422 |
| (6) 3秒で硬化する速硬化型ACF 富士通研究所 |
423 |
| (7) リペア可能なACF 日立化成工業 |
423 |
| (8) 出力接続用ACF「Three bond 3370K」スリーボンド |
425 |
| (9) 入力接続用低温接続異方性導電フィルム「アニソルムAC-9000」 |
425 |
| 引用文献 |
426 |