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頁 |
| 第I章 低温同時焼成セラミックス(LTCC) |
1 |
| 1.1 LTCC基板材料の概要 |
1 |
| 1.1.1 LTCCの標準的な基板材料のタイプ |
1 |
| 1.1.2 LTCC誘電体材料の誘電特性と諸特性の総括 |
3 |
| 1.2 LTCCの製造技術 |
8 |
| 1.2.1 LTCCの製造方法 |
8 |
| (1) 標準的なLTCCの製造方法 |
8 |
| (2) 各研究機関におけるLTCCの製造方法 |
9 |
| A. LTCC基板用グリーンシート(日本電気真空硝子) |
9 |
| (a) グリーンシートの特性 |
10 |
| (b) グリーンシートの加工 |
11 |
| B. LTCC多層配線基板の製造技術(平井精密工業) |
12 |
| (a) 回路基板としてのLTCC基板材料 |
12 |
| (b) 配線の厚膜導体形成 |
13 |
| (c) 内層への埋め込み |
14 |
| C. マイクロスルーホールの形成方法(日本大学) |
15 |
| (a) LTCCグリーンシートのスルーホール形成の課題 |
15 |
| (b) 紫外光レーザを使ったスルーホール形成 |
15 |
| D. エンボス状LTCC電極(日本大学) |
18 |
| (a) グリーンシート上でのエンボスパターンの形成 |
18 |
| (b) 銀導体シートへのエンボスパターンの形成 |
18 |
| (c) 銀とガラス-セラミックスのエンボス界面の形成 |
19 |
| E. ソフトフェライト原料用微粒酸化鉄(JFEスチール) |
20 |
| (a) 製造工程 |
20 |
| (b) 微粒酸化鉄製造法の条件検討 |
21 |
| (c) 微粒酸化鉄「JC-FH04」の特性 |
21 |
| 1.2.2 LTCC基板の拘束焼成・焼結方法 |
24 |
| (1) 外部加圧拘束方式 |
24 |
| A. 無収縮焼成「LFCシステム」(Z焼成)(大垣村田製作所) |
24 |
| (2) 犠牲層拘束方式 |
26 |
A. 「AMSG」材と無収縮プロセス
(パナソニック エレクトロニックデバイス) |
26 |
| (a) ガラス添加による低温焼結化 |
26 |
| (b) AMSG材の概要 |
27 |
| (c) 拘束層の厚みとAMSGの焼成収縮 |
27 |
B. 低誘電率と高誘電率の材料を組み合わせた抵抗内蔵LTCC
の拘束焼成(村田製作所) |
28 |
| (a) 開発されたLTCCの概要 |
28 |
| (b) 低誘電率材料K8 の特性 |
29 |
| (c) 高誘電率材料K15の特性 |
29 |
| (d) K8とK15の接合境界面観察 |
29 |
| (e) レーザートリミング |
31 |
| (3) 自己拘束方式 |
31 |
A. アルミナ粉体層を挿入したガラス-アルミナ基板の拘束焼結
(村田製作所) |
31 |
| (a) ガラス-アルミナ基板の作製方法 |
32 |
| (b) アルミナ粉体層の挿入数と収縮率 |
33 |
| (c) アルミナ粒子層のトータル厚さと収縮率 |
33 |
| (d) その他焼結体の観察と考察 |
34 |
B. ゼロ収縮LTCC「HeraLock」
(ドイツ、Federal Institute for Materials Reserch and Testing他) |
34 |
| (a) HeraLock技術の概要 |
35 |
| (b) 2種のLTCCテープを貼り合わせた自己拘束積層体 |
36 |
| C. 自己拘束焼結LTCCテープ「HeraLock HL2000」 |
38 |
| (a) 「HeraLock HL2000」テープの収縮特性 |
38 |
| (b) 「HL2000」のセラミックの特性 |
38 |
| (c) 「HeraLock HL2000」の予測位置ばらつき |
40 |
D. 2相混合LTCC積層体の自己拘束焼結
(台湾、National Tsing Hua University) |
41 |
| (a) LBGA/BBSGA積層体の作製方法 |
41 |
| (b) LBGA/BBSGA積層体の焼成収縮と相互拘束 |
41 |
| (c) その他LBGA/BBSGA積層体の構造解析 |
45 |
| (4) 無収縮焼結のための圧縮負荷の研究 |
45 |
A. LTCCの緻密化における一軸圧縮負荷の効果
(ドイツ、University of Technology) |
45 |
| (a) 一軸圧縮試料の焼結歪み測定 |
45 |
| (b) 径方向の収縮ゼロを得るための一軸圧縮圧力 |
47 |
B. 収縮異方性に与える一軸圧縮応力と圧力無負荷拘束の影響
(米国、ペンシルベニア州立大学) |
48 |
| (a) 粘性挙動と焼結収縮、微細構造および焼成密度の関係 |
48 |
| (b) 一軸圧縮応力と圧力無負荷拘束の関係 |
49 |
| 1.2.3 各種LTCC基板材料と物理・電気特性に関する各国の研究開発動向 |
52 |
| (1) 日本 |
52 |
| A. ガラス-セラミックス系におけるフィラー粒径の影響 (TDK) |
52 |
| (a) 粒径と焼成収縮率 |
52 |
| (b) 粒径と焼結体の組織 |
53 |
| (c) 粒径と収縮過程の粘度変化 |
53 |
| (d) 粒径と電気特性 |
54 |
| B. LiFをドープしたMg4Nb2O9(MN)の低誘電損失LTCC材料(名城大学他) |
55 |
| (a) MN-1.0wt%LiFセラミックスの作製方法 |
55 |
| (b) MN-1.0wt%LiFセラミックスの焼結温度依存性 |
56 |
| (c) MN-1.0wt%LiFセラミックスの誘電率 |
57 |
| (d) MN-1.0wt%LiFセラミックスの2次相形成 |
57 |
C. 低温焼結(Mg3-xCox) (VO4)2セラミックスのマイクロ波特性
(名城大学他) |
57 |
| (a) (Mg3-xCox) (VO4)2セラミックスの合成 |
58 |
| (b) (Mg3-xCox) (VO4)2セラミックスのマイクロ波誘電特性 |
58 |
| (c) 試料の微構造とQ・f値との関係 |
59 |
D. 高周波デバイス用LTCC材料
(パナソニックエレクトロニックデバイス) |
60 |
| (a) 高誘電率LTCC材料 |
60 |
| (b) 低誘電率LTCC材料 |
61 |
| (c) AMSG材 |
62 |
E. 高誘電率系LTCC材料
(松下電器産業、パナソニックエレクトロニックデバイス) |
63 |
F. マイクロ波、ミリ波対応新ガラス-セラミックスLTCC「MSG」材
(村田製作所) |
64 |
| (a) MSG材の組成と製法 |
64 |
| (b) MSG材の誘電特性 |
64 |
| (c) MSG材の誘電特性の周波数依存性 |
65 |
| (d) MSGの焼結過程と結晶性 |
66 |
| G. LTCC用La2O3−B2O3系熔融混合物(村田製作所) |
66 |
| (a) 熔融物の合成 |
66 |
| (b) La2O3-xB2O3−0.5ZnO系熔融物の特性 |
68 |
| (c) 結晶性熔融物と非晶質熔融物の混合物 |
70 |
| H. 低熱膨張LTCCによる低応力実装 (京セラ) |
70 |
| (a) 低熱膨張LTCC材料の材料特性 |
70 |
| (b) アンダーフィル材料の粘弾性特性評価 |
71 |
| (c) 半導体デバイスに発生する応力の評価 |
71 |
| (d) 熱膨張差と低応力実装の関係 |
73 |
| (2) 米国 |
74 |
| A. 「T2000」の開発(Motorola Laboratories) |
74 |
| (a) τfのニアゼロ化 |
74 |
| (b) 「T2000」の特性 |
74 |
| (c) TiO2による「T2000」誘電体のτfの変性 |
75 |
B. Al電極とコファイアできるBaTe4O9セラミックス
(ペンシルベニア州立大学) |
77 |
| (a) 多結晶BaTe4O9化合物の特性 |
77 |
| (b) BaTe4O9の超低温焼結と特性 |
77 |
| (c) BaTe4O9誘電体とメタル電極との両立性 |
79 |
C. BaTiTe3O9セラミックスの合成とその誘電特性
(ペンシルベニア州立大学) |
80 |
| (a) テルル系化合物の特性 |
80 |
| (b) 単相化合物BaTiTe3O9の合成 |
80 |
| (c) BaTiTe3O9セラミックスの誘電特性 |
82 |
D. M相構造をもつLi1+x-yNb1-x-3yTix+4yO3セラミックスへの
V2O5添加効果(ペンシルベニア大学) |
83 |
| (a) Li2O-Nb2O5-TiO2の構造 |
83 |
| (b) LiNb0.6(1-x)V0.6ITi0.5O3セラミックスのマイクロ波誘電特性 |
84 |
| (c) コファイア過程でのAg電極との両立性 |
86 |
E. 負荷膨張計測によるガラス系組成の緻密化粘度
(ペンシルベニア州立大学) |
86 |
| (a) 多結晶セラミックスの粘度測定の問題 |
87 |
| (b) 等温サイクル負荷膨張計測(ICLD)の概要 |
87 |
| (c) サイクル負荷と定圧負荷の比較 |
87 |
| (d) ICLD法の再現性 |
89 |
| (3) ドイツ |
90 |
A. LTCCテープの不均一収縮挙動に及ぼす摩擦の影響
(Erlangen-Nuremberg大学) |
90 |
| (a) 収縮不均一の発生の要因 |
91 |
| (b) 収縮挙動に与えるパラメータ |
91 |
B. Rietveld法によるLTCCガラス−セラミック複合材料中の結晶解析
(Erlangen-Nuremberg大学) |
94 |
| (a) 非晶質相の定量化の課題 |
94 |
| (b) Rietveld法 |
94 |
| (c) Rietveld法による非晶質相の定量実験 |
95 |
C. 機械的ストレスを受けたLTCC積層体の寿命予測
(Erlangen-Nuremberg大学) |
97 |
| (a) LTCCデバイスの機械的ストレス |
97 |
| (b) メタライズされたLTCC多層体の機械特性 |
97 |
| (4) 韓国 |
100 |
| A. ランタン−ボロン系LTCCのマイクロ波誘電特性(Yonsei University) |
100 |
| (a) 焼成温度によるパラメータ評価 |
100 |
| (b) LTCC組成の物理特性と誘電特性 |
102 |
| B. Ca[(LiNb)Ti]O3+ガラスフリット系マイクロ波誘電体セラミックス(KIST) |
103 |
| (a) Ca[(Li1/3Nb2/3)1-xTix]O3-δセラミックスの作製方法 |
103 |
| (b) ガラスフリット添加による誘電率の変化 |
104 |
| C. BiNbO4-ZnNb2O6系LTCCの微細構造と誘電特性(Yonsei University) |
106 |
| (a) BiNbO4-ZnNb2O6系LTCCの誘電特性 |
106 |
| (b) BiNbO4-ZnNb2O6系セラミックスのLTCC材料作製 |
106 |
| (c) コファイアされた多層セラミックスのAg電極の界面 |
107 |
| (d) Ag電極と0.9BiNbO4-0.1ZnNbO6のマイクロ波誘電特性 |
108 |
D. Ba(ZnTa)O3+B2O3+CuO 系LTCCのマイクロ波誘電特性
(Korea University他) |
109 |
| (a) BZT+B2O3+CuO系セラミックスの合成方法 |
110 |
| (b) CuOの添加の影響 |
110 |
| (c) BZTセラミックスの影響 |
111 |
| (5) 中国・台湾 |
112 |
A. Li2TiO3-Nb2O5-B2O3系マイクロ波誘電体セラミックス
(中国、Chinese Academy of Sciences) |
112 |
| (a) Li2TiO3固溶体セラミックスの作製 |
113 |
| (b) Li2TiO3固溶体の誘電特性 |
113 |
B. La(MgTi)O3+(B2O3-La2O3-MgO-TiO2ガラス)のマイクロ波誘電特性
(中国、Chinese Academy of Sciences) |
115 |
| (a) BLMTとLMT系の材料の焼結挙動 |
116 |
| (b) BLMT-LMT系の材料のマイクロ波誘電特性 |
116 |
| C. バインダー分解メカニズムの解析(台湾、Yuan Ze University他) |
118 |
| (a) ANNモデル化アプローチ |
118 |
| (b) 熱重量分析 |
118 |
| (c) 実験計画法 |
119 |
| (d) ANNモデリング |
120 |
D. 鉛レス鉛レス誘電体セラミックスの組成設計
(台湾、National Tsing Hua University) |
120 |
| (a) Al2O3とTiO2の添加によるガラスへの影響 |
121 |
| (b) TG-Al2O3-TiO2 3元系組成物の焼結挙動 |
121 |
| (c) TG-Al2O3-TiO2 3元系組成物の誘電特性 |
122 |
| (6) フィンランド |
124 |
| A. BaSrTiO3系強誘電体LTCC(Oulu大学) |
124 |
| (a) 実験試料の条件 |
124 |
| (b) 焼結助剤Bi2O3とLi2CO3の組み合わせ |
124 |
| (c) 2種類の焼結助剤添加試料の特性比較 |
125 |
| (d) コファイアした試料の収縮挙動 |
125 |
| B. マイクロ波用強誘電体LTCCの誘電率の電界制御(Oulu大学他) |
127 |
| (a) セラミックスの合成 |
127 |
| (b) セラミックスの誘電特性 |
127 |
C. MgTiO3-CaTiO3系LTCCのマイクロ波共振周波数の温度係数
(University of Oulu) |
130 |
| (a) ZSB(r)/MMT-20L系TCCセラミックス |
130 |
| (b) MMT-20添加量による微細構造変化 |
131 |
| (c) MMT-20添加量によるマイクロ波誘電特性変化 |
132 |
| (7) スロベニア |
133 |
| A. ガラスフリーLTCC用Bi-ベース化合物(Jozef Stefan Institute) |
133 |
| (a) LTCCシステムの構成材料 |
133 |
| (b) 3種の組成物の化学的両立性、焼結温度および誘電率等の特性 |
135 |
| (8) 外販メーカーの基板材料 |
136 |
| A. DuPont LTCC Green Tape(DuPont) |
137 |
| (a) DuPontのLTCC材料の特長 |
137 |
| (b) DuPontの拘束焼結技術 |
137 |
B. DuPontのLTCC Green Tape システムと導体技術
(台湾、DT Microcircuits Corporation他) |
139 |
| (a) 951テープの特性 |
139 |
| (b) ビアフィル(via fill)形成 |
140 |
| (c) 内層導体 |
140 |
| C. FERRO LTCC A6 Tape(FERRO) |
141 |
| 1.2.4 導体・抵抗体形成技術 |
148 |
| (1) LTCC用ペーストの技術動向(昭栄化学工業) |
148 |
| A. 高周波用低抵抗導体ペーストの選択 |
148 |
| B. 導体ペーストの焼成収縮挙動 |
149 |
| (2) LTCC導体形成 |
150 |
A. 印圧スクリーン印刷機「MT-550TVC」によるファインパターン形成技術
(マイクロ−テック) |
150 |
| B. インクジェット印刷による銀微細配線形成(KOA、セイコーエプソン) |
152 |
| (a) インクジェット印刷によるパターン形成 |
153 |
| (b) 層間接続のビアの小径化 |
154 |
| (3) LTCC抵抗材料 |
155 |
| A. Bi2Ru2O7系LTCC用抵抗材料(名古屋工業大学他) |
155 |
| (a) 厚膜抵抗として適切な電子セラミックスへの要求 |
155 |
| (b) REをドープしたBi2Ru2O7電子セラミックスの検討 |
155 |
| (c) DvXα法を用いた第一原理計算 |
156 |
B. Ca-B-Si系LTCC基板に内蔵した厚膜抵抗の相分離
(台湾、national United University他) |
159 |
| (a) 厚膜抵抗の相分離の概要 |
159 |
| (b) 基板と内蔵抵抗の微細構造 |
159 |
| (c) 基板と内蔵抵抗の相互拡散 |
161 |
| 1.3 LTCC応用技術 |
163 |
| 1.3.1 高周波デバイス |
163 |
| (1) 受動素子集積回路 |
163 |
| A. LTCC応用高周波デバイス(TDK) |
163 |
| (a) パッシブ・インテグレーション |
163 |
| (b) LTCCを応用した個別機能デバイス |
166 |
| (c) インピーダンス・マッチング |
167 |
| B. 高周波セラミック材料と部品(日立グループ) |
167 |
| (a) 高周波多層基板材料の課題 |
167 |
| (b) 鉛フリー高強度LTCC材料 |
168 |
C. HeraLock HL2000 テープを用いたマイクロ波モジュールの設計
(Heraeus) |
170 |
| (a) HeraLock HL2000 テープの特性 |
170 |
| (b) 焼成収縮挙制御 |
170 |
| (c) フリーの表面ガラスの効果 |
172 |
| (d) インサート材の影響 |
173 |
| (2) マイクロストリップ線路・ストリップ線路・共振器 |
173 |
| A. 高周波用LTCC材料技術 (太陽誘電) |
173 |
| (a) マイクロストリップ線路の材料特性 |
173 |
| (b) 高周波積層部品用LTCC材料 |
174 |
| (c) LTCC材料の耐薬品性 |
175 |
| B. マイクロストリップLTCC共振器の特性改善(電気通信大学他) |
175 |
| (a) スプリアスレスポンスの改良 |
175 |
| (b) ベーシックマイクロストリップ共振器 |
176 |
| (c) タップ型共振器 |
178 |
| C. LTCCマイクロストリップ線路の帯域阻止特性(電気通信大学他) |
180 |
| (a) 多層型マイクロ波回路の構想 |
180 |
| (b) MSL基板内部の解析 |
181 |
| (c) LTCC材料によるMSLの作製 |
182 |
D. LTCCの微細構造とマイクロ波特性
(韓国、Samsung Electro-Mechanics) |
184 |
| (a) 有機組成と熱処理条件によるLTCCの微細構造制御の構想 |
184 |
| (b) テスト試料 |
185 |
| (c) 内包ポアと電気特性 |
185 |
| (3) フィルタ |
187 |
| A. マイクロ波通信用LTCCの材料特性と回路設計(双信電気) |
187 |
| (a) 積層誘電体セラミックスフィルタ |
188 |
| (b) 誘電率と回路の設計 |
189 |
| (c) 共振周波数の温度依存性 |
189 |
| B. 3次元周期構造誘電体の透過特性(青山学院大学他) |
190 |
| (a) 3次元周期構造誘電体の概略 |
190 |
| (b) 透過特性の解析 |
190 |
C. マイクロ波バンドパスフィルタと小型ストリップアンテナ
(米国、ペンシルベニア州立大学他) |
192 |
| (a) マイクロ波バンドパスフィルタ |
192 |
| (b) マイクロストリップアンテナの小型化開発 |
194 |
| (4) アンテナ |
195 |
| A. パッチ型共振器を用いたマイクロストリップパッチアンテナ(関西大学) |
195 |
| (a) パッチ型共振器の概要 |
195 |
| (b) パッチ個数と散乱特性および位相特性 |
196 |
(c) エレメント直下にパッチ型共振器を埋め込んだ
マイクロストリップパッチアンテナ |
198 |
| B. ミリ波通信用アンテナ(シャープ、京セラ) |
199 |
| (a) シャープが開発した通信モジュール |
199 |
| (b) 京セラが試作したセラミック・アンテナ |
200 |
| (5) 90°ハイブリッド |
202 |
| A. LTCC内蔵90度ハイブリッド(三菱電機) |
202 |
| (a) タンデム型ハイブリッド回路の構成 |
202 |
| (b) ハイブリッド設計 |
203 |
| (c) グランド導体壁の効果 |
204 |
| (6) コイル・インダクタ |
205 |
| A. 空芯コイルの電気特性(TDK、東京理科大学) |
205 |
| (a) L・C素子の設計 |
205 |
| (b) コイルに対するGND電極の影響 |
207 |
B. SiP設計用埋め込みインダクタの高周波特性
(福岡県産業・科学技術振興財団他) |
208 |
| (a) 埋め込みインダクタの構造 |
208 |
| (b) シミュレーション |
209 |
| (c) Sパラメータ |
210 |
C. 厚膜フォトリソグラフィによるファインラインインダクタ
(韓国Korea Electronics Technology Institute) |
211 |
| (a) 光感受性Agペーストによる厚膜フォトリソグラフィ |
211 |
| (b) 埋め込み型インダクタの特性 |
213 |
| D. インダクタのモデル化と最適化(韓国、KIST, Yonsei University) |
214 |
| (7) キャパシタ |
216 |
| A. 櫛歯状キャパシタの回路モデル(韓国、Yonsei University) |
216 |
| (a) モデリング法 |
217 |
| (b) 内蔵二次元櫛歯状キャパシタのテスト構造 |
217 |
| (c) デバイスモデルパラメータの抽出 |
218 |
| (8) LTCC設計技術 |
220 |
A. 高周波3次元電磁界シミュレータ「Ansoft HFSS」
(アンソフト・ジャパン) |
220 |
| (a) 電磁界シミュレータ |
220 |
| (b) 回路シミュレータ |
221 |
| (c) 自己共振周波数 |
221 |
| (d) 回路と電磁界シミュレータの連携 |
222 |
| 1.3.2 化学分析機器等 |
226 |
(1) LTCCマイクロ流動システム
(ポーランド、Wroclaw University of Technology) |
226 |
| A. LTCCマイクロ流動システムの概要 |
226 |
| B. Ponceau Wの水溶液を用いた実験 |
228 |
(2) 電位差検出を集積した連続流体分析マイクロシステム
(スペイン、Universitat Autonoma de Barcelona他) |
229 |
| A. 連続流体分析マイクロシステムの概要 |
230 |
| B. LTCCデバイスの作製 |
230 |
| C. 硝酸マイクロシステムの実験例 |
232 |
(3) 犠牲容積材料のマイクロシステムへの応用
(米国、Sandia National Laboratories) |
232 |
| A. マイクロ流動インターポーザー |
232 |
| B. 犠牲容積材料の種々の使用法 |
233 |
| C. 犠牲容積(内包する空洞) |
233 |
| D. 犠牲容積材料(SVM)の応用 |
233 |
(4) モノシリック構造に配列したマイクロカラム
(韓国、Electronics and Telecommunications Research Institute, 他) |
235 |
| A. マルチ電子ビーム手法 |
235 |
| B. 2×2マイクロカラムアレー |
236 |
| C. マイクロカラム間の電磁干渉 |
237 |
(5) カーボン犠牲層を用いたマイクロ流動装置
(スイス、Laboratoire de Production Microtechnique(LPM) |
238 |
| A. LTCCテープ中のペーストの課題 |
238 |
| B. カーボンブラックペーストによる犠牲層 |
239 |
| 1.3.3 燃料電池・その他 |
243 |
| (1) マイクロ燃料電池の燃料改質(韓国、Sungkyunkwan University 他) |
243 |
| A. NaBH4によるマイクロ燃料処理システムの反応 |
243 |
| B. マイクロ燃料電池への応用 |
244 |
| (2) LTCCを用いた燃料電池(ドイツ、Fraunhofer IKTS) |
246 |
| (3) ホットプレートガスセンサー(ドイツ、University of Bayreuth) |
246 |
A. 懸架ビーム
(Suspended Beam:センサー部分を支持するための橋梁)の加工 |
246 |
| B. LTCC技術によるガスセンサーのデザイン |
247 |
| C. 各種LTCCテープの特性比較 |
247 |
(4) LTCC基板上に形成した配向性AlN薄膜
(米国、ノースカロライナ大学他) |
249 |
| A. LTCCベースのデバイスの熱制御 |
249 |
| B. 配向性AlN薄膜の作製 |
250 |
| C. AlN膜の熱制御特性 |
252 |
| 1.4 ディスクリート部品(チップ部品) |
253 |
| 1.4.1 積層型結合共振器帯域阻止フィルタ(松下日東電気他) |
253 |
| (1) 積層帯域阻止フィルタ (BEF)用高誘電率LTCCの課題 |
253 |
| (2) 伝送レスポンス劣化の改善 |
254 |
| 1.4.2 LTCC材料を用いた積層型方向性結合器(TDK) |
257 |
| (1) 積層型方向性結合器の設計 |
257 |
| (2) 等価回路解析 |
258 |
| 1.4.3 2種の誘電体からなる光学結晶の新製法(TDK) |
259 |
| (1) 光学結晶の概要と用途 |
259 |
| (2) 電磁バンドギャップ(EBG)デバイスの作製法 |
260 |
| (3) 完全光バンドギャップを発生させる2次元光学構造 |
260 |
| 1.4.4 積層チップインダクター(太陽誘電) |
262 |
| (1) 積層チップインダクターの課題 |
262 |
| (2) フェライト材料 |
263 |
| 1.4.5 縦型板バネアクチュエータ(米国、University of Alabama in Huntsville) |
265 |
| (1) シリコンによる縦型板バネアクチュエータ作製の課題 |
265 |
| (2) セラミックテープシステムによる2層板バネアクチュエータの作製 |
265 |
| (3) 圧電特性の維持 |
267 |
| (4) 犠牲層の選択 |
268 |
| 1.4.6 Ag内部電極の作製 |
268 |
| (1) 液相焼結技術による高性能積層圧電アクチュエータの開発(富士通) |
268 |
| (2) 積層圧電トランス(パナソニックエレクトロニックデバイス) |
270 |
| A. 積層圧電トランスの課題 |
270 |
| B. PZT系低温焼成圧電材料 |
271 |
| C. 焼結挙動の制御 |
272 |
第II章 エアロゾルデポジション法 |
275 |
| 2.1 エアロゾルデポジション法の基礎 |
275 |
| 2.1.1 エアロゾルデポジション法による成膜法(産業技術総合研究所) |
275 |
| (1) 成膜装置の基本構成と成膜条件 |
275 |
| (2) 常温衝撃固化現象 |
276 |
| (3) 薄膜化、複合・集積化への期待 |
278 |
2.1.2 プラズマおよび高速原子イオンビームによる膜の特性改善
(産業技術総合研究所) |
278 |
(1) 成膜時にプラズマあるいは高速原子イオンビームを
援用する装置の概要 |
278 |
| (2) PZT膜の強誘電特性の改善 |
279 |
| (3) 膜内の欠陥とコンタミネーションの減少 |
281 |
| 2.2 エアロゾルデポジション法の応用技術 |
281 |
| 2.2.1 キャパシタ |
282 |
(1) 高周波キャパシタ用材料TiO2/Al2O3、BaTiO3膜の開発
(富士通、産業技術総合研究所) |
282 |
| A. 粒子噴射用最適ガス種の選択 |
283 |
| B. キャリアガス中の酸素濃度の影響 |
283 |
| C. エンベッディドパッシブ技術への展開 |
284 |
| (2) 樹脂基板内蔵のBaTiO3キャパシタ(富士通) |
284 |
| 2.2.2 高周波フィルタ |
287 |
| (1) 高周波フィルタのエンベッディド化技術(富士通他) |
287 |
| A. 各種高周波フィルタの特徴 |
287 |
| B. ストリップラインフィルタ型フィルタ |
288 |
| C. Ba(Zn1/3Ta2/3)O3(BZT)、Al2O3のAD膜の開発 |
289 |
| (2) 集積化高周波モジュールのためのアルミナ厚膜形成(東京工業大学) |
290 |
| A. 集積化高周波モジュールの概念 |
290 |
| B. 基板となるアルミナ厚膜の形成 |
291 |
| C. AlとCu基板上のアルミナ厚膜の誘電特性 |
293 |
| 2.2.3 電磁ノイズ抑制体としてのNi-Zn-Cuフェライト厚膜 (東北大学他) |
293 |
| (1) 電磁ノイズ抑制体の概要 |
293 |
| (2) NiZn系フェライト厚膜の作製方法 |
294 |
| (3) NiZn系フェライト膜の特性 |
294 |
| (4) NiZn系フェライト膜の電磁ノイズ抑制効果 |
296 |
| 2.2.4 透明電気光学用Pb1-xLax(ZryTiz)1-x/4O3膜の検討(NEC) |
297 |
| (1) ナノフォトニックデバイスの実現のための課題 |
297 |
| (2) Pb1-xLax(ZryTiz)1-x/4O3(PLZT)の透明化 |
298 |
| (3) PLZT膜の電気特性 |
299 |
2.2.5 圧電アクチュエーター用Pb(Ni1/3Nb2/3)O3-Pb(ZrTi)O3 (PNN-PZT)
膜の検討(NECトーキン) |
301 |
| (1) 圧電アクチュエータ用圧電膜形成技術の課題 |
301 |
| (2) PNN-PZT膜の成膜 |
301 |
2.2.6 ハイブリッド圧電厚膜による磁気光学式空間光変調器の開発
(豊橋技術科学大学) |
303 |
| (1) 磁気光学式空間光変調器 |
304 |
| A. MOSLMの原理 |
304 |
| B. 圧電駆動型MOSLMの原理 |
305 |
| (2) PZT膜形成法 |
306 |
| 2.2.7 圧電薄膜の光スキャナへの応用(ブラザー工業) |
306 |
| (1) 光スキャナの原理 |
307 |
| (2) 圧電膜の形成 |
307 |
| 2.2.8 イメージングセンサ用アンテナ素子(東陶機器) |
309 |
| (1) 電波方向切替方式「Mスキャン」 |
309 |
| (2) 電極表面の誘電体膜形成 |
310 |
第III章 その他の低温セラミック膜形成技術 |
313 |
| 3.1 ゾル・ゲルコーティング法 |
313 |
| 3.1.1 ゾル・ゲル法によるCBTi144圧電体の合成(産業技術総合研究所) |
313 |
| (1) Ca-Bi-Ti系前駆体溶液の合成スキーム |
313 |
| (2) 白金上でのCBTi144薄膜の結晶構造と強誘電体特性 |
314 |
| (3) CBTi144膜の酸素ストイキオメトリーの調節 |
315 |
| 3.1.2 ゾル・ゲル・キャスト法によるPZT-PMN厚膜の形成(静岡大学他) |
316 |
| (1) PZT-PMN厚膜の成膜の検討 |
316 |
| (2) PMN-PZT膜の強誘電特性 |
318 |
3.2 ECRスパッタ法で作製したNi-Znフェライト薄膜を用いたインダクタ
(山口大学) |
319 |
| 3.2.1 インダクタの構造 |
319 |
| 3.2.2 ECRスパッタ装置 |
320 |
| 3.2.3 Ni-Zn-Cuフェライトコアの電気特性 |
321 |
第IV章 高周波誘電特性測定技術 |
323 |
| 4.1 マイクロ波・ミリ波帯における誘電特性測定法 |
323 |
4.1.1 低損失誘電体材料のマイクロ波・ミリ波帯における複素比誘電率測定
(埼玉大学) |
323 |
| (1) 誘電体基板試料の測定方法 |
323 |
| A. 円筒空洞共振器法 |
323 |
| B. 遮断円筒導波管法 |
323 |
| C. 平行形導体円板共振器法 |
323 |
| D. 開放型共振器法 |
324 |
| E. WGモード共振器法 |
234 |
| (2) 誘電体円柱試料の測定方法 |
324 |
| A. Hakki-Coleman法 |
324 |
| B. 2誘電体円柱共振器法 |
324 |
4.1.2 セラミックス/メタライズ膜の同時焼成体の複素誘電率測定法
(京セラ、埼玉大学) |
326 |
| (1) 平衡形円板共振器の構造 |
327 |
| (2) 平衡円板共振器での比誘電率と誘電正接の測定原理 |
328 |
| 4.1.3 開放型共振器法によるミリ波誘電体測定技術(キーコム) |
329 |
| (1) 開放型共振器法の概要 |
329 |
| (2) 測定手順 |
331 |
| (3) 共振周波数とQの測定 |
331 |
| 4.1.4 薄膜の高周波誘電率特性測定法(AET Japan他) |
332 |
| (1) 従来の高周波誘電率特性測定法の問題点 |
332 |
| (2) 新しい測定法 |
333 |
| A. 同軸プローブ法 |
333 |
| B. リング型共振器法 |
335 |
| 4.2 ネットワーク・アナライザによる多ポートデバイスの測定技術 |
335 |
4.2.1 LTCCデバイスの多ポートデバイス測定
(アジレント・テクノロジー・インターナショナル) |
335 |
| (1) ネットワーク・アナライザの構造 |
336 |
| (2) ネットワーク・アナライザの機能 |
337 |
| A. 測定ポート数の拡張 |
337 |
| B. 多チャンネル、多トレースへの対応 |
338 |
| C. 多ポート校正への対応 |
338 |
付属資料1 用語解説 |
340 |
| 5.1 Sパラメータ |
340 |
| 5.2 スミスチャート(Smith chart) |
341 |
| 5.3 マイクロストリップライン |
342 |
| 5.4 ストリップライン |
344 |
| 5.5 分布定数回路 |
344 |
| 5.6 集中定数回路 |
345 |
| 5.7 マイクロストリップ線路共振器 |
346 |
| 5.8 コプレーナ線路共振器 |
347 |
| 5.9 共振・共振回路・共振周波数 |
348 |
| 5.9.1 共振 |
348 |
| 5.9.2 共振回路・共振周波数 |
348 |
| 5.9.3 共振周波数の温度係数 |
349 |
| 5.10 Q値(quality factor) |
349 |
| 5.11 誘電体・圧電体・強誘電体 |
350 |
| 5.11.1 誘電体 |
350 |
| 5.11.2 圧電体・強誘電体 |
351 |
| 5.12 リラクサー(relaxor)強誘電体 |
352 |
| 5.12.1 リラクサー現象 |
352 |
| 5.12.2 リラクサー強誘電体 |
353 |
| 5.13 誘電率・複素誘電率W |
353 |
| 5.13.1 誘電率 |
353 |
| 5.13.2 複素誘電率 |
353 |
| 5.14 誘電損失・誘電正接・品質係数 |
354 |
| 5.14.1 誘電損失 |
354 |
| 5.14.2 誘電正接 |
355 |
| 5.14.3 品質係数 |
356 |
付属資料2 主要な国内公開特許 |
357 |
| 6.1 低温同時焼成セラミックス(LTCC)に関する国内公開特許 |
357 |
| 6.2 エアロゾルデポジション(AD)法に関する国内公開特許 |
366 |